產品資料
日本yamabun臺式離線光譜干涉儀測厚儀TOF-S
產品名稱: 日本yamabun臺式離線光譜干涉儀測厚儀TOF-S
產品型號:
產品特點: 日本yamabun臺式離線光譜干涉儀測厚儀TOF-S光學膜和透明涂層的理想選擇型號托福測量方式非接觸型/光譜干擾型測量目標電子和光學透明透明薄膜，多層薄膜測量原理光譜干擾類型
日本yamabun臺式離線光譜干涉儀測厚儀TOF-S 的詳細介紹
日本yamabun臺式離線光譜干涉儀測厚儀TOF-S
產品特點
高測量重復性（±0.01μm或更小，取決于目標物體和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以制造用于研究和檢查的離線類型以及在制造過程中使用的在線類型
反射型可從膠片的一側進行測量
可以僅測量透明涂層（取決于測量條件）
日本yamabun臺式離線光譜干涉儀測厚儀TOF-S
產品規格
| 測量厚度 | 1至50μm（對于薄材料），10至150μm（對于厚材料） |
|---|---|
| 測量長度 | 50-5000毫米 |
| 測量間距 | 1毫米? |
| 小顯示值 | 0.001微米 |
| 電源電壓 | AC100伏50/60 Hz |
| 工作溫度范圍 | 5至45°C（測量期間溫度變化在1°C以內） |
| 濕度 | 35-80％（無凝結） |
| 測量面積 | φ0.6毫米 |
| 測量間隙 | 約30毫米 |
金屬板的理想選擇TOF-M
產品特點
測量帶狀金屬板的厚度變化
通過自動傳輸機制實現穩定的測量重復性
測量數據可以自動保存在PC上
產品規格
| 測量厚度 | 0.1-0.5毫米 |
|---|---|
| 測量長度 | 10-1800毫米 |
| 測量間距 | 0.1毫米? |
| 小顯示值 | 0.1微米 |
| 測量壓力 | 0.45±0.25 N以下 |
| 電源電壓 | AC100V 50/60赫茲 |
| 工作溫度范圍 | 5-40℃ |
| 濕度 | 30-80％（無凝結） |
| 耗電量 | 50 VA（不包括PC） |
了解有關樣本測試的更多信息
相關產品
產品目錄
聯系我們
在線客服