日本DENSOKU電測(cè)Beta線膜厚度計(jì)BTC-221

日本DENSOKU電測(cè)Beta線膜厚度計(jì)BTC-221

從薄到厚
新系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量

·使用個(gè)人計(jì)算機(jī)大大提高了可操作性和功能。
·高精度地測(cè)量薄到厚的物體
·也可以測(cè)量小面積
·輕松編程特殊校準(zhǔn)曲線
·計(jì)數(shù)校正很容易，不需要GM管預(yù)熱

β線膜厚度計(jì)BTC-221的特點(diǎn)
大大提高了可操作性和功能

使用個(gè)人計(jì)算機(jī)可以大大提高可用性和功能。

從薄到厚的物體測(cè)量，精度高

通過改變輻射源，可以高精度地從薄物體到厚物體進(jìn)行測(cè)量。

可以測(cè)量小面積

可以通過更換面罩來測(cè)量小面積。有各種口罩可供選擇。

輕松編程特殊校準(zhǔn)曲線

可以進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)輸入（2到9個(gè)點(diǎn)），并且可以輕松編程特殊校準(zhǔn)曲線。

輕松計(jì)數(shù)校正

可以隨時(shí)進(jìn)行計(jì)數(shù)校正，并且可以在不加熱GM管的情況下進(jìn)行高精度測(cè)量。

多可存儲(chǔ)40條用于測(cè)量的校準(zhǔn)曲線

多可存儲(chǔ)40條用于測(cè)量的校準(zhǔn)曲線。存儲(chǔ)的校準(zhǔn)曲線可以復(fù)制到其他通道。

校準(zhǔn)曲線可以通過材料的單點(diǎn)校正進(jìn)行重新校準(zhǔn)

校準(zhǔn)曲線可以通過材料的單點(diǎn)校正進(jìn)行重新校準(zhǔn)。

設(shè)置上限和下限

您可以設(shè)置有效測(cè)量值的上限和下限。

測(cè)量膜厚度和組成比

合金膜可以測(cè)量膜厚度和組成比。

可以在直徑為80mm或更大的管道中進(jìn)行測(cè)量

如果φ80mm或更大，則可以在管道中進(jìn)行測(cè)量。

可以隨時(shí)刪除由于測(cè)量誤差導(dǎo)致的薄膜厚度值

可以隨時(shí)刪除由測(cè)量誤差引起的膜厚值。

時(shí)間和單位可以任意設(shè)定

測(cè)量時(shí)間可以任意設(shè)置1至999秒。可以隨時(shí)更改測(cè)量單位，μm，MI，mil，成分％和計(jì)數(shù)％，并自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量值。

測(cè)定原理

當(dāng)物質(zhì)被β射線照射時(shí)，其部分被吸收并且其一部分被透射。 有些是透明的。 一些向后散射，劑量根據(jù)材料的厚度和外來電子的數(shù)量（電子數(shù)量）而變化。 由于隨著厚度增加直到其達(dá)到不能檢測(cè)到劑量增加的飽和厚度，反向散射量增加（或減少），所以可以通過比較基板的反向散射量與涂層的反向散射量來測(cè)量厚度。你。
因此，隨著基板和涂層之間的原子序數(shù)的差異增加，測(cè)量精度增加，并且隨著原子序數(shù)的差異減小，測(cè)量精度降低。 如果原子序數(shù)差至少為10％，則可以測(cè)量薄膜。